晶體管特性圖示儀廠家簡介：

晶體管特性圖示儀是一種專用示波器，它能直接觀察各種晶體管特性曲線及曲性簇。例如:晶體管共射、共基和共集三種接法的輸入、輸出特性及反饋特性；二管的正向、反向特性；穩壓管的穩壓或齊納特性；它可以測量晶體管的擊穿電壓、飽和電流、自或a參數等~~~

晶體管特性圖示儀廠家技術指標：

（l）Y軸編轉因數：

集電電流范圍：0.01～1000毫安/度，分十六檔，誤差≤±3%；

集電電流倍率：分×2、×1、×0.l三檔，誤差≤±3%；

基電壓范圍：0.01～0.5V/度，分六檔，誤差≤±3%；

基電流或基源電壓：0.05V/度，誤差≤±3%；

外接輸入：0.1V/度，誤差≤±3%；

（2）X軸偏轉因數：

集電電壓范圍：0.01～20V/度，分十一檔，誤差≤±3%；

基電壓范圍：0.01～0.5V/度，分六檔，誤差≤±3%；

基電流或基源電壓：0.5V/度，誤差≤±3%；

外接輸入： 0.1V/度，誤差≤±3%。

（3）基階梯信號：

階梯電流范圍：0.001～ 200mA/度，分十七檔；

階梯電壓范圍：0.01～0.2V/級，分五檔；

串聯電阻：10Ω～22KΩ，分 24檔；

每族級數：4～12連續可變；

每秒級數：100或200，共3檔；

階梯作用：重復、關、單族，共三檔；

性：正、負兩檔；

誤差≤±5%．

（4）集電掃描信號：

峰值電壓：0～20V、0～200V兩檔，正、負連續可調；

電流容量： 0～20V時為10A（平均值），0～200V時為1A（平均值）；

功耗限制電阻：0～100KΩ，分17檔，誤差≤±5%；

（5）電源：交流 220V ±10%，50Hz±20Hz。

功耗：260VA．

環境溫度：－10 ℃～+40℃

相對濕度：≤80%

用途：

晶體管特性圖示儀可用來測定晶體管的共集電、共基、共發射的輸入特性、輸出特性、轉換特性、α、β參數特性；可測定各種反向飽和電流 ICBO、ICEO、IEB0和各種擊穿電壓 BUCBO、BUCEO、BUEBO等；還可以測定二管、穩壓管、可控硅、隧道二管、場效應管及數字集成電路的特性，用途廣泛。

構成：

晶體管特性圖示儀主要由集電掃描發生器,基階梯發生器,同步脈沖發生器,X軸電壓放大器,Y軸電流放大器,示波 管,電源及各種控制電路等組成. 各組成的主要作用如下:

(1)集電掃描發生器的主要作用,是產生集電 掃描電壓,其波形是正弦半波波形,幅值可以調節, 用于形成水平掃描線.

(2)基階梯發生器的主要作用,是產生基階梯 電流信號,其階梯的高度可以調節,用于形成多條曲 線簇.

(3)同步脈沖發生器的主要作用,是產生同步脈沖,使掃描發生器和階梯發生器的信號嚴格 保護同步.

(4)X軸電壓放大器和Y軸電流放大器的主要作 軸電壓放大器和Y 用,是把從被測元件上取出的電壓信號(或電 流信號)進行放大,達到能驅動顯示屏發光之 所需,然后送至示波管的相應偏轉板上,以在屏面上形成掃描曲線.

(5)示波器的主要作用,是在熒屏面上顯示測 試的曲線圖象.

(6)電源和各種控制電路,電源是提供整機的能源供給,各種控制電路是便于測試轉換和調節.

晶體管特性圖示儀原理：

下面以使用本儀器測試“晶體二管伏安特性”和“晶體三管輸出特性”為例，介紹儀器的工作原理。

1．二管伏安特性的測試原理

流過二管的電流I和二管兩端電壓U的函數關系稱為“二管伏安特性”。本儀器通過顯示“伏安特性曲線”來定量顯示被測二管的“伏安特性”。由二管伏安特性曲線（正向區）可知，當我們將二管兩端的電壓U由0逐漸增大時，二管中的電流I會按照“二管方程”的規律逐漸增大。

二管方程式中：在環境溫度為300K時，UT≈26mV 。

將這一過程重復進行稱為“電壓掃描”。根據特性曲線所在的象限，用本儀器“X軸作用”和“Y軸作用”的“移位”旋鈕調整掃描的原點在示波器屏幕的左下角或右上角。當測量二管正向特性曲線時，由于曲線位于*象限，所以應將原點調整至屏幕左下角。（而反向特性曲線位于第三象限，應將原點調整至右上角，并將掃描電壓性選擇為“－”。）二管兩端的電壓U的值經“X軸放大器”放大后，控制示波器光點在X軸方向的運動。當電壓由0逐漸增大時，光點從zui左邊的原點處向右水平移動，光跡的長度和電壓值成正比。同時，用流過二管的電流I的值（需變換成電壓）經“Y軸放大器”放大后，來控制示波器光點在Y軸方向的運動。當電流由0 逐漸增大時，光點由zui下邊的原點處向上垂直運動，光跡的長度和電流成正比。兩者的共同作用就會使示波器的光點在在屏面上顯示出二管的伏安特性曲線，并可根據示波管上的刻度定量讀出電壓、電流的數據。

測試二管伏安特性曲線時，儀器工作原理如圖1所示。

（1）將“測試選擇”開關扳向中間（“關”），被測二管插入測試臺左側“E”和“C”插孔中，這時二管沒有加電；當其它選項調節好后，再將“測試選擇”扳向“晶體管A”側，進行加電測量。

（2）測試二管時，基“階梯信號”不起作用。加在被測二管上的電壓由“集電掃描信號”單元提供。

“集電掃描信號”單元輸出的是頻率為100Hz的脈動直流電壓，波形如 的正電壓或 的負電壓，由“性”旋鈕控制，可選“+”或“－”；電壓的峰值由“峰值電壓范圍”選擇，可選“0～20伏”或“0～200伏”，再由“峰值電壓”旋鈕細調，可產生上述范圍之間的任意值。注意：測量半導體器件一般選擇“0～20”，而“0～200”用來測試器件的反向擊穿電壓。“功耗限制電阻”串連在電路中起保護作用，避免過大電流流過被測管。

測量二管時，調節JT-1的“集電掃描單元”的控制旋鈕，使“性”為“+”，“峰值電壓范圍”為“0～20V”，“峰值電壓”先旋為“0”，正式測量時加大到所需值。 “功耗限制電阻”在測量大電流二管時可選幾Ω或幾十Ω，小電流管可選幾十Ω至幾KΩ。

（3）“X軸作用”用來選擇X軸放大器的測量對象和X軸放大器放大倍數，當扳至“集電電壓”0.1“伏 [1]